缺陷生命周期中可用的不同缺陷状态

缺陷生命周期(也称为Bug生命周期)是各个阶段的生命周期，从软件测试人员确定缺陷或缺陷的指向直到测试人员声明特定缺陷已解决的那一刻，缺陷或Bug就可以通过或完全通过。完全不会再复制。

不同的缺陷状态：
缺陷生命周期基本上由解决缺陷，测试缺陷和跟踪过程直到缺陷未被解决的各个阶段或状态组成。这些阶段如下：

1. 新的 ：
   每当测试仪第一次发现并发布缺陷时，就会自动将其分配为“新”状态。

2. 打开 ：
   然后测试团队检查缺陷，并确保识别出的缺陷是否有效。如果缺陷有效，则会自动将其分配为“打开”状态。
3. 分配：
   然后，缺陷由测试负责人进一步分配给开发团队。然后，它会自动分配为“已分配”状态。现在，开发人员有责任分析并解决缺陷。
   • 复制 –
     如果开发人员在分析过程中发现缺陷被多次发布，或者两个缺陷的缺陷报告具有相似的结果和要重现的步骤，或者对应于相同的缺陷概念，则系统会自动将其分配为“重复”状态。
   • 拒绝了 –
     如果开发人员在分析过程中发现缺陷不是真实的，无效的或未通过认证，则将其自动分配为“已拒绝”状态。
   • 推迟/推迟–
     如果开发人员在分析过程中发现缺陷对系统不是非常有害，也不是首要任务，并且可以在下一发行版中修复，则系统会自动将其分配为“延迟”状态。
   • 不可复制–
     如果开发人员在分析过程中发现缺陷未通过测试导线在缺陷报告中的“重现步骤”缺陷中已经提到的步骤进行重现，则系统会自动将其分配为“不可重现”状态。
4. 固定的 ：
   当开发人员完成分析过程后，发现缺陷有效且需要立即修复时，开发人员将进行必要的更改以解决缺陷。进行更改后，开发人员将进一步验证更改。如果不需要其他更改来弥散缺陷，则将其自动分配为“已修复”状态。
5. 已验证：
   然后，开发人员将缺陷进一步传递给测试团队以再次进行验证，然后将缺陷状态自动分配为“重新测试”，即“待验证”。这里的测试人员检查缺陷是否由开发人员修复。
   • 重新开启–
     在重新测试或验证时，如果测试仪发现缺陷没有完全修复，可以再次再现或没有正确修复，则将自动将其分配为“重新打开”状态。在这种情况下，缺陷会再次被打开。
6. 闭馆时间：
   如果测试团队发现缺陷不再存在并且没有发现任何痕迹能够再次再现，则将其自动分配为“已关闭”状态。