自上而下的集成测试

自上而下的集成测试是软件开发中的一种测试方法。该方法测试的不仅是单个模块或单元函数的功能，而是整个系统在一个高级别上的功能。测试从最高层次开始，尽管可能还有下层次的一些缺陷，但测试覆盖了整个系统中的所有功能，这种方法也被称为“大整合测试”。

测试流程

自上而下的集成测试有以下测试流程：

1. 首先，应该将系统拆分成一些子系统，并测试每个子系统是否符合它们的规范。

2. 然后，将子系统集成在一起，进行系统集成测试。在测试中，每个子系统都被视为单个单元，而整个系统是被测试的单位。

3. 如果有必要，可以进行模块层次的调试。如果测试过程中发现了问题，可以追踪到具体的模块，这有助于特定区域的修复。

4. 然后，将每个模块与其他模块集成，以测试系统的完整性。

5. 最后，进行问题诊断和修复。当问题被识别时，它们被解决并且重新测试，直到问题被消除。

测试优点

自上而下的集成测试有以下优点：

1. 集成测试可以确保系统的高级别功能，这些功能不可能在单个模块层次上测试。

2. 确定子系统的规范错误，这些错误可能不会明显地出现在单个模块中。这会使修复成为可能，然后是最终的集成测试。

3. 集成测试也可以防止功能交叉干扰。

4. 它可以识别出未被测试的子系统接口，从而为这些接口增加相应的测试单元。

测试缺点

自上而下的集成测试也有以下缺点：

1. 缺乏局部化的验证。

2. 难以在同一层次上集成模块。在一个给定的级别，模块几乎总是依赖于其他的模块，这就意味着只有将所有模块的集成测试才能在同一级别完成。

3. 取决于下层次的模块是否准确。在层次结构的最上层中，从下层中的结果中分离的结果可能会导致不准确的测试结果。

总结

自上而下的集成测试是测试整个系统功能的高效方法。它确保高级别的功能可以正确执行，同时在集成测试过程中，也可确认子系统与其他系统的接口兼容性。但是，需要注意的是，这种方法也有一些缺点，比如难以局部化验证和依赖于下层次的模块是否准确等。