先决条件–软件测试
年龄测试：
年龄测试是一种软件测试，用于评估将来的系统性能，这意味着该测试表明系统在变旧或使用了一段时间后，将来会如何运行。借助年龄测试，可以评估未来表现的能力。在此期间，如果测试人员团队执行了不同类型的软件测试，则还将执行Age测试。年龄测试是一种了解系统/软件耐用性的方法。此年龄测试报告不仅有助于检测系统的未来性能，而且还有助于系统的未来改进。根据年龄测试报告，还会相应地添加新的修改，更新和功能。
缺陷年龄是执行年龄测试的基础。因此，在了解缺陷年龄之前，首先让我们知道系统/软件中的年龄是多少，然后我们将在软件中了解缺陷年龄。
年龄 ：
在这个世界上，所有可能是有生命的实体或无生命的实体的事物都具有可持续发展的时代。经过一定时间后，一切都会随着性能的变化而终止。同样，软件/系统具有其可持续发展的时间。因此，由于老化，软件缺乏性能，并且会出现不同的缺陷。
与软件的老化相关的问题很多，例如
- 可支持性
- 软件安全性
- 过时的库和软件包
缺陷年龄：
缺陷是由于软件行为异常而引起的。通过遵循缺陷/缺陷生命周期来识别和修复缺陷。因此，缺陷也有年龄。缺陷寿命是根据两个因素/参数计算得出的，即
- 时间
- 阶段
1.缺陷时代：
缺陷时效时间是缺陷检测时间与缺陷修复时间之间的差。表示测试团队何时发现缺陷以及何时修复缺陷。缺陷修复日期可以是其修复的过去日期，也可以是当前日期(如果仍未解决/尚未解决缺陷)。主要是以天或小时为单位来计算该缺陷年龄。
Defect Age in Time
= Defect Fix/Solve Date (OR Current Date) – Defect Detection/Identification Date
例如，在5/11/20上确定的缺陷，在20/11/20上修复的缺陷。因此，缺陷寿命为15天。
2.缺陷阶段：
相中缺陷年龄是指缺陷注入阶段和缺陷检测阶段之间的差异。表示在哪个阶段识别出缺陷以及在哪个阶段引入/起源缺陷。这里的阶段指的是SDLC(软件开发生命周期)的不同阶段。
Defect Age in Phase
= Defect Detection/Identification Phase – Defect Injection/Originate Phase
例如，在集成测试阶段发现了缺陷，而在编码阶段引入了缺陷。因此，缺陷年龄为2。
SDLC阶段如下：
- 需求开发
- 设计
- 编码
- 单元测试
- 整合测试
- 系统测试
- 验收测试
- 维护
缺陷变质：
缺陷损坏是指很难为测试人员识别和调试缺陷的因素。较高的缺陷损坏值表示缺陷检测非常困难，而较低的缺陷损坏值表示缺陷检测易于检测和调试。
可以通过以下方式计算：
Defect spoilage
= (Total number of defects in one phase * defect discover phase)/ Total number of defects found.