什么是年龄测试?

这是一种测试技术，用于评估系统将来的执行能力，通常由测试团队执行。随着系统的老化，性能下降的严重程度将由“年龄测试”来衡量。

让我们也了解“缺陷时代”的概念。它用两个参数来衡量：

1. Phases
2. Time 

缺陷年龄-阶段：

分阶段的缺陷年龄定义为缺陷注入阶段和缺陷检测阶段之间的差异。

参数：

1.“缺陷注入阶段”是引入缺陷时软件开发生命周期的阶段。

2.“缺陷检测阶段”是指出缺陷的软件开发生命周期的阶段。

式：

Defect Age in Phase = Defect Detection Phase - Defect Injection Phase

例：

考虑一下，我们采用的SDLC方法论分为以下几个阶段：

1.需求开发

2.设计

3.编码

4.单元测试

5.整合测试

6.系统测试

7.验收测试，如果在单元测试(4)中发现了缺陷，并且在开发的设计阶段(2)中引入了缺陷，则缺陷年龄为(4)-(2)= 2。

缺陷年龄-时间：

缺陷寿命定义为缺陷检测日期与当前日期之间的时间差，前提是仍然认为缺陷是开放的。

参数：

1.缺陷处于“打开”和“已分配”状态，而不仅仅是“新建”状态。

2.不考虑由于“不可复制”或“重复”而处于“闭合”状态的缺陷。

3.根据缺陷的开放日期和当前日期计算天数或小时数之差。

式：

Defect Age in Time = Defect Fix Date (OR) Current Date - Defect Detection Date

例：

如果在05/05/2013 11:30:00 AM上检测到缺陷，并在23/05/2013 12:00:00 PM上将其关闭，则缺陷寿命将按以下方式计算。

Defect Age in Days = 05/05/2013 11:30:00 AM - 23/05/2013 12:00:00 PM
Defect Age in Days = 19 days

结果：

为了评估每个阶段以及任何复查/测试活动的有效性，缺陷年龄越小，有效性就越高。